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      美國Xentaur公司XDT露點(diǎn)儀

      美國Xentaur公司XDT露點(diǎn)儀

      美*Xentaur公司XDT露點(diǎn)儀擁有墻掛式、一體式、盤(pán)面式、隔爆式等多種安裝方式選擇。廣泛應用于天然氣工業(yè); 塑料的干燥過(guò)程; 空分; 石油化工原料氣; 熱處理過(guò)程; 及其他特定工業(yè)氣體中的水份測量。
      XDT露點(diǎn)儀
      XDT露點(diǎn)儀原理電容法露點(diǎn)儀
      所有的氧化鋁水份測量原理都是相同的 -- 傳感器的電容量隨水分子在氧化鋁層中的濃度變化而變化。傳感器電容的電 是外表的鍍金層和內部的鋁芯。 傳統的氧化鋁技術(shù)是在60 - 70年代的研究和開(kāi)發(fā)成果。

      HTF (超薄膜氧化鋁技術(shù)) 是90年代金屬表面氧化技術(shù)的成果。 氧化鋁超薄膜技術(shù)具有如下的結構優(yōu)點(diǎn):
      1. 超薄膜 HTF 在鋁表面形成非常薄的的氧化層。 超薄的氧化層使水分子更加自由的進(jìn)出氧化層, 從而大大提高傳感器的響應速度。 HTF技術(shù)比傳統氧化鋁技術(shù)的響應速度快幾倍。
      2. 過(guò)度層HTF技術(shù)的鋁和氧化鋁的過(guò)度層非常薄, 從而使傳感器的電 非常接近(外表的鍍金層和內部的鋁芯)。 因而傳感器在干濕轉換過(guò)程中的電容量變化非常明顯。 相比傳統的氧化鋁技術(shù), 這種高電容量變化特性有效的抑制其它外界因素對傳感器電容量的影響, 如環(huán)境溫度和老化的因素。
      3. 氧化鋁薄膜的多孔幾何結構HTF氧化鋁表層的多孔幾何結構是非常不同與傳統氧化鋁表層的吸水結構。當水分子進(jìn)入HTF氧化鋁表層的多孔幾何結構時(shí), 從而增加了電介質(zhì), 提高了電容量。另外, HTF氧化鋁表層的多孔幾何結構可以保證長(cháng)期的結構穩定性。相比之下傳統氧化鋁表層的吸水性結構缺少結構穩定性, 隨著(zhù)時(shí)間的推移, 氧化鋁表層的吸水結構會(huì )退化成非吸水結構。

      XDT露點(diǎn)儀HTF技術(shù)的測量?jì)?yōu)勢:XTD露點(diǎn)儀現場(chǎng)案列
      1. 與傳統氧化鋁傳感器相比, HTF傳感器具有300倍以上的濕度敏感性
      2. HTF傳感器具有長(cháng)期的穩定性和抗老化性
      3. 溫度對HTF傳感器整個(gè)測量范圍的影響可以忽略
      4. 具有很強的抗腐蝕和抗污染性
      5. HTF傳感器無(wú)需定期的飄移校驗

      XDT露點(diǎn)儀技術(shù)規格:
      傳感器: 超薄膜型高電容量氧化鋁
      露點(diǎn)范圍:XTR-100型: -100°C 至 +20°C (-148°F 至 +68°F)
        XTR- 65型: -65°C 至 +20°C (-85°F 至 +68°F)
      電  容:15 nF 至 200 nF
      精  度:±3°C
      重 復 性:±0.5°C
      溫度范圍:-30°C 至 +50°C (-22°F 至 104°F)
      樣品流量:100m/s
      壓力標準: 34巴
      電纜長(cháng)度:同軸電纜, 大長(cháng)度914米

      變送器
      分 辨 率:0.1°C 露點(diǎn)
      指 示 器:LCD數顯, 露點(diǎn)°C,ppmv, gH2o/m3; 等
      輸  出:4-20ma, RS-232
      報警繼電器:選件
      電  源:100 - 240VAC, 或15 - 30 VDC
      防爆等*:Class I, Div 1, Group A,B,C,D; Class II, E,F,G
           Class I, Div II Grop A,B,C,D; Class II Group F,G
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      美*Xentaur是一*超過(guò)30年儀器儀表銷(xiāo)售服務(wù)和解決方案應用的公司。公司成立于1969年,專(zhuān)注于美*Xentaur公司.pngCOSA Xentaur過(guò)程控制和分析儀器。Xentaur公司提供創(chuàng )新、可靠和范圍廣泛的分析測量應用,工業(yè)過(guò)程的的解決方案。

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